LJD-C型介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前的160MHz. LJD-C介電常數(shù)測試儀采用了多項技術(shù)。
雙掃描技術(shù) - 測試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動調(diào)諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動化測量技術(shù) -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術(shù)和測試回路*化 —使測試回路 殘余電感減至Z低,除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時要加以修正的困惑。
*1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ
*2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)
3.Q值測量范圍:1~1023
4.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
*5.電感測量范圍:1nH~140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能
*6.電容直接測量范圍:1pF~25nF
7.主電容調(diào)節(jié)范圍: 17~240pF
8.準確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%
9.信號源頻率覆蓋范圍100kHz~160MHz
10.合格指示預(yù)置功能范圍:5~1000
11.環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
12.消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
13. S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:
數(shù)顯式微桿,平板電容器:
極片尺寸: 38mm
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
夾具插頭間距:25mm±0.01mm
夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
測微桿分辨率:0.001mm
測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm
*液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm
14. 電感組LKI-1:
分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。
主機 一臺
電感 九支
夾具 一套
液體杯 一套