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產品分類
Product classification詳細介紹
LJD-C型硅橡膠高頻介電常數測試儀
一、概述:
LJD-C型介電常數及介質損耗測試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測試儀器,測試頻率上限達到目前國內較高的160MHz.ZJD-C介電常數測試儀采用了多項技術。
雙掃描技術 - 測試頻率和調諧電容的雙掃描、自動調諧搜索功能。
雙測試要素輸入 - 測試頻率及調諧電容值皆可通過數字按鍵輸入。
雙數碼化調諧 - 數碼化頻率調諧,數碼化電容調諧。
自動化測量技術 -對測試件實施 Q 值、諧振點頻率和電容的自動測量。
全參數液晶顯示 – 數字顯示主調電容、電感、 Q 值、信號源頻率、諧振指針。
DDS 數字直接合成的信號源 -確保信源的高葆真,頻率的高*確、幅度的高穩(wěn)定。
計算機自動修正技術和測試回路優(yōu)化 —使測試回路 殘余電感減至*低,** Q 讀數值在不同頻率時要加以修正的困惑。
二、主要技術特性:
Q 值測量范圍: 2 ~ 1023,量程分檔:30、100﹑300﹑1000,自動換檔或手動換檔
固有誤差:≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
工作誤差:≤ 7 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ),≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)
電感測量范圍: 4.5nH ~ 140mH
電容直接測量范圍: 1 ~ 200pF
主電容調節(jié)范圍: 18 ~ 220pF
主電容調節(jié)準確度: 100pF 以下 ± 1pF;100pF 以上 ± 1 %
信號源頻率覆蓋范圍: 100kHz ~ 160MHz
頻率分段( 虛擬 ): 100 ~ 999.999kHz, 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz,100 ~ 160MHz
頻率指示誤差: 3 × 10 -5 ± 1 個字
三、夾具工作特性
1.平板電容器:
極片尺寸: Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調范圍: ≥15mm
2. 夾具插頭間距: 25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值:≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率: 0.001mm
四、配置:
主機 一臺
電感 九支
夾具 一套
隨機文件一套
LJD-B型硅橡膠高頻介電常數測試儀
一、概述:
LJD-B型介電常數及介質損耗測試儀是我公司*研制生產的產品,自該產品實現銷售后,我公司工程師就一直持續(xù)不斷對產品改進升級;特別是在軟件上不斷地加以完善,改進了早期產品存在的不足之處,提高了測試精度,并增加新的功能。但近期我公司發(fā)現,一些沒有研發(fā)能力的不良公司,盜版了我公司早期產品的軟件,仿制假冒我公司的產品進行銷售,給不了解情況的客戶將帶來損失。因為這些產品的軟件存在不足之處,(如在主電容調節(jié)至80pf左右時,電容指示值會出現跳變,出現180pf左右的指示值;在介質損耗測試時,當材料的損耗較大時,介質損耗值會出現錯誤。)但又無法得到升級完善,產品沒有新增的功能。因此請廣大用戶注意識別。
二、技術參數:
信號源頻率范圍: DDS數字合成 10KHz-70MHz
Q測量范圍: 1-1000自動/手動量程
信號源頻率覆蓋比: 6000:1
Q分辨率: 4位有效數,分辨率0.1
信號源頻率精度: 3×10-5 ±1個字,6位有效數
Q測量工作誤差: <5%
電感測量范圍: 15nH-8.4H,4位有效數,分辨率0.1nH
調諧電容: 主電容30-500PF
電感測量誤差: <5%
調諧電容誤差和分辨率:±1.5P或<1%
標準測量頻點: 全波段任意頻率下均可測試
Q合格預置范圍: 5-1000聲光提示
諧振點搜索: 自動掃描
Q量程切換: 自動/手動
諧振指針: LCD顯示
LCD顯示參數: F,L,C,Q,波段等
三、夾具工作特性
1.平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
四、配置:
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
LJD-A型
一、概述:
LJD-A型介電常數及介質損耗測試儀是一種通用的,多用途,多量程的高頻阻抗測量儀器。它可測量高頻電感器,高頻電容器及各種諧振元件的品質因數(Q值)、電感量、電容量、分布電容、分布電感,也可測量高頻電路組件的有效串、并聯電阻、傳輸線的特征阻抗、電容器的損耗角正切值、電工材料的高頻介質損耗、介質常數等等。因而高頻Q表不但廣泛用于高頻電子元件和材料的生產、科研、品質管理等部門、也是高頻電子和通信實驗室的常用儀器。它的測試回路采用了優(yōu)化的設計、優(yōu)質的介質材料和優(yōu)良的涂覆工藝使殘值減少。其高頻信號源是采用DDS數字合成、Q值測定和顯示部分運用了微機技術和智能化管理,數碼鎖定信號源頻率,諧振回路自動搜索,測試標頻自動設置技術,使得測試精度更高,使生產線分選測試速度大增。
二、技術參數:
Q值測量:1-999 三位數顯,自動切換量程,可手動設置測量量程
固有誤差:≤5%±滿度值的2%
工作誤差:≤7%±滿度值的2%
電感測量:0.1μH-1H 誤差<5%±0.03μH
測試頻率:10kHz-60MHz 五位數顯 DDS數字合成
具有頻標自動設置,自動搜索諧振點,Q值合格設置,聲光指示
頻率誤差:3×10-5±1個字
調諧電容:主電容:40-500PF 誤差<±1%或 1PF
微調電容:±3PF 分辨率0.2PF
三、夾具工作特性 :
1.平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
四、配置:
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
三、夾具工作特性
1.平板電容器:
極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測微桿分辨率:0.001mm
四、配置:
主機一臺
電感九支
夾具一套
隨機文件一套
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